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Nikon Metrology

Sistemas de Rayos X y TC

Mejore la calidad y reduzca costos automatizando la inspección interna ND por R-X y Tomografía Computarizada

Serie XT V

Uso Intuitivo

  • Navegación intuitiva con mando para inspección de rayos X en tiempo real.
  • Manipulación de muestras sin colisiones.
  • Pantalla de 30″o doble pantalla de 22″ para el control del sistema en tiempo real.
  • Software Inspect-X líder en la industria.
  • Mínima capacitación requerida.
  • Idioma Local

Imágenes de Alta Calidad

  • Fuentes de microfoco diseñadas y fabricadas internamente.
  • Aumento geométrico de hasta 2400 para acercarse a los detalles mas pequeños.
  • Reconocimiento de características de 500 nm.
  •  Procesamiento de imágenes de 16 bits.
  •  Angulo máx. de inclinación de 75°
  • Control preciso de potencia y dirección de Rayos X emitidos.
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Bajo Costo de Funcionamiento.

  • Vida útil ilimitada de la fuente gracias al diseño de tubo abierto, con filamentos de bajo costo reemplazables por el usuario.
  • Los componentes que requieren mantenimiento son de fácil acceso.
  • La fuente integrada no requiere cable de alto voltaje.
  • No se requiere tratamiento de piso especial.

Enfoque en la productividad.

  • Rápida inspección automatizada de componentes con inmediato análisis y generación de informes.
  • Posición de carga para acelerar y facilitar la carga y descarga de la muestra.
  • Gran puerta con función de apagado de rayos X automática para facilitar el acceso al área de inspección.
  • Gran bandeja para cargar varias placas.
  • Lector de código de barras para reconocimiento automático del número de serie del espécimen (optativo)

Seguridad.

  • Monitoreo continuo de fallas.
  • La caja de protección completa no requiere identificaciones especiales ni ropa de seguridad.
  • El gabinete con blindaje de plomo plenamente con las normas de seguridad sobre radiación DIN 54113 y la regulación CE

Máxima calidad y Economía

XT V 160: Inspección de rayos X de máxima calidad

Diseñado específicamente para lineas de producción y laboratorios de análisis de errores, el XT V 160 puede configurarse con distintos componentes de primera calidad para optimizar el rendimiento según sus necesidades. Ademas de la inspección manual en tiempo real, el proceso de inspección puede automatizarse completamente para maximizar la productividad.

  • Fuente NanoTech de 160 kV/20 W de micro-foco con reconocimiento de características submicrónica.
  • Cámara de 12 bits y 1,45 Mpixel con intensificador de imagen 4″/6″de campo doble
  • Detector de pantalla plana optativo
  • Manipulador de 5 ejes (X, Y, Z, rotación, inclinación)
  • Vistas aéreas en 36o grados, manteniendo la región de interés fija al centro del campo de visión.
  • Captura en tiempo real o inspección automatizada
  • Preparado para aplicaciones de TC (opcional)

Serie XT H

Siempre que la estructura interna sea importante, la tecnología TC y de Rayos X es una eficiente herramienta para obtener valiosa información. La Medición y captura detallada de características internas con frecuencia es vital para el control de calidad, análisis de errores y la investigación de materiales en diversas industrias.

  • Detección y análisis de fallas
  • Inspección de montaje de mecanismos complejos
  • Medición dimensional de componentes internos
  • Comparación ‘pieza a CAD’
  • Investigación de materiales avanzada
  • Análisis de estructuras biologicas
  • Archivado digital de modelos

Automoviles

  • Conectores electricos
  • Boquillas de inyeccion
  • Sensores (como el sensor Lambda)
  • Tubos Luminosos LED
  • Piezas fundidas pequeñas de alta presion
  • DPF (Filtro de partículas diésel)

Aeroespacial

  • Alabes de turbinas de cera
  • Alabes de turbinas fundidas
  • Análisis de fisuras en componentes
  • Análisis de soldadura

Moldeo de inyección de plástico

  • Componentes plásticos complejos (Ventiladores)
  • Materiales blandos traslúcidos que no admiten opciones táctiles u ópticas
  • Soldadura ultrasonicas de piezas plásticas.

Farmacia/Medicina

  • Dosificadores de medicamentos
  • Instrumentos pequenos
  • Piezas plasticas o compuestas pequenas
  • Estructuras óseas
  • Implantes (dental, cadera, rodilla, cráneo)

Investigación

  • Verificación y análisis de materiales (estructura, porosidad, defectos)
  • Paleontología (huesos, cráneos, fósiles)
  • Geología y ciencias del suelo
  • Arqueologia
  • Energía renovable (baterías, paneles solares, etc)

Con los sistemas de Nikon Metrology TC, puede...

  • Verificar estructuras internas complejas
  • Aislar e inspeccionar los componentes incluidos
  • Medir dimensiones internas sin seccionar la muestra
  • Detectar y medir automáticamente vacíos/volúmenes internos
  • Revelar estructuras internas y externas con facilidad
  • Reducir el tiempo total de inspección
  • Reducir el tiempo total de inspección
  • Reducir el numero de iteraciones para ajustar los parámetros de pre producción

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